基于单片机的智能RLC测量仪的设计

论文编号:DZXX057  论文字数:10137,页数:26

 摘要
 单片机（Micro Controller Unit 简称MCU）系统在现代社会的检测和控制系统中得到了广泛的应用，R、L、C是系统经常需要测量的量，而模拟量是比较难被测量出来的，因此，需要采用适当的技术将模拟的测量量转化为数字测量量。在原理上虽然不是非常困难但实现起来，还是会遇到其它各种方面的问题。因此对单片机R、L、C测量系统的研究有着非常重要的目的和意义。本文主要论述了基于单片机的智能RLC测量仪的设计，利用单片机对R、L、C等参数进行测量，可以充分利用单片机的运算和控制功能，方便地实现测量，使测量精度得到提高。同时用软件程序代替一些硬件测量电路，可在硬件结构不变的情况下，修改软件以增加新的功能。能够很好的完成对RLC参数的测量，以满足现代测控系统的需要。
 
关键词：单片机、RLC测量、数字测量
ABSTRACT
MCU(Micro Controller Unit) system in a modern society detection and control system, which is widely used, R, L, C system is often measured by quantity, analog is more difficult to measure is, therefore, require the use of appropriate technology to simulate the measurement into a digital measurement. 在原理上虽然不是非常困难但实现起来，还是会遇到其它各种方面的问题。Although in theory it is not very difficult to achieve, and will continue to face various other aspects. 因此对单片机R、L、C测量系统的研究有着非常重要的目的和意义。So right MCU R, L, C Measurement System Research has a very important purpose and significance.
It is mainly discussed in this paper that the design of intellectual RLC parameter measurer based on MCU. MCU use of R, L, C, and other parameters measured, can take full advantage of MCU processing and control functions, to facilitate the realization of measurements for improved measurement accuracy. Simultaneously uses the software procedure to replace some hardware metering circuits, may in the hardware architecture invariable situation, revise software to increase the new function.Can very good completing to the RLC parameter survey, satisfy the modern observation and control system the need.

Keywords: MCU、RLC measurement、Digital Measurement

目录

摘要 I
ABSTRACT II
第一章 引言 1
1.1 本课题的研究意义 1
1.2 本课题国内外研究现状 1
第二章 RLC测量原理与总体方案设计 3
2.1 RLC测量原理 3
2.2 总体设计方案 3
2.2.1 系统结构框图 3
2.2.2 系统工作原理 4
2.2.3 系统设计的关键问题 4
第三章 RLC测量仪硬件实现 6
3.1 电阻值和电容值到频率的转化 6
3.2 电感到频率的转化 8
3.3 频率的测量 10
3.3.1 测周法的多周期同步测频法 10
3.3.2 测频法 11
第四章 频率测量的单片机实现 13
第五章 RLC测量仪总结 21
致谢 22
参考文献 23

相关论文